QEMS 電(diàn)緻發光量子效率測試系統
發光OLED等材料發光效率，發光特征等光學(xué)性能(néng)測試
QEMS-電(diàn)緻發光量子效率測試系統是對OLED材料的發光特性，發光效率等光學(xué)性能(néng)進行測試的系統，可(kě)以測OLED等發光器件。
系統結構
• 标準球為(wèi)3.3英寸Spectralon®積分(fēn)球， 球大小(xiǎo)可(kě)定制
• 配置樣品電(diàn)緻發光夾具(jù)，可(kě)以實現不同區(qū)域位置點亮。
• NIST可(kě)溯源的标準燈2Pi-1-INT-040, 已知350nm~1100nm下每1nm的絕對光譜輻射通量
• 光譜儀CDS2600或者CDS3030
• 可(kě)定制夾具(jù)
• 量子效率專用(yòng)軟件
産(chǎn)品優勢
• 體(tǐ)積小(xiǎo)巧：便于靈活使用(yòng)及運輸。
• 流程化操作(zuò)：設備無需頻繁校準。
• 便攜式、波長(cháng)可(kě)定制的準直激發光源，與積分(fēn)球的球口匹配，無需手動對準。
測試參數
1) EQE 外部量子效率
2) 各項參數值：發光效率(lm/W)、絕對輻射光通量(lm)、光強度(cd)、亮度(cd/m2)、LIV曲線(xiàn)、CIE色度圖、IV Curve…；
性能(néng)參數
測試範圍0-100%
測試精(jīng)度≤3%
規格參數
| 積分(fēn)球直徑： | 3.3inch |
| 積分(fēn)球開口尺寸： | 1.5inch |
| 積分(fēn)球内部塗層： | Spectralon® |
| 前端材質(zhì)： | 鋁 |
| 塗層反射率： | 99% |
| 升降調節： | 可(kě)升降高低 |
| 軟件： | KC-QES |
