光緻發光熒光量子效率測試系統
發光材料發光效率，發光特征等光學(xué)性能(néng)測試
QEMS-光緻發光量子效率測試系統是對發光材料的發光特性，發光效率等光學(xué)性能(néng)進行測試的系統，可(kě)以測薄膜，液體(tǐ)和粉末。
系統結構
标準球為(wèi)6英寸Spectraflect®積分(fēn)球， 球大小(xiǎo)可(kě)定制
配置樣品夾具(jù)/比色皿，可(kě)測試薄膜，液體(tǐ)和粉末
NIST可(kě)溯源的标準燈2Pi-1-INT-050, 已知350nm~1100nm下每1nm的絕對光譜輻射通量
光譜儀CDS2600
便攜式、波長(cháng)可(kě)定制的準直激發光源
Light MtrX軟件
産(chǎn)品優勢
體(tǐ)積小(xiǎo)巧：便于靈活使用(yòng)及運輸。
流程化操作(zuò)：設備無需頻繁校準。
便攜式、波長(cháng)可(kě)定制的準直激發光源，與積分(fēn)球的球口匹配，無需手動對準。
測試參數
EQE 外部量子效率
各項參數值：發光效率(lm/W)、絕對輻射光通量(lm)、光強度(cd)、亮度(cd/m2)、CIE色度圖、IV Curve…；
主要規格參數
積分(fēn)球直徑： | 6inch |
積分(fēn)球開口大小(xiǎo)： | 1cm |
積分(fēn)球内部塗層： | Spectraflect® |
前段材質(zhì)： | 鋁 |
