雜散光（veiling glare）測量
光學(xué)或成像系統的像平面通常不僅接收成像輻射，還接收能(néng)降低成像對比度的雜散光。這種不需要的輻射稱為(wèi)雜散光（veiling glare）。鏡頭的雜散光（veiling glare）與鏡頭系統和相機機身組合的雜散光（veiling glare）有(yǒu)很(hěn)大不同。在後一種情況下，來自圖像傳感器的部分(fēn)成像輻射的反射，再加上來自鏡頭系統和相機機身的進一步反射和散射會顯著貢獻雜散光。
一種測量雜散光（veiling glare）的方法稱為(wèi)積分(fēn)法。用(yòng)積分(fēn)方法，目标對象是一個被擴展均勻光源包圍的小(xiǎo)的黑色區(qū)域。雜散光系數（veiling glare index）指定為(wèi)黑色區(qū)域成像中(zhōng)的輻照度與擴展光源成像中(zhōng)的輻照度之比。一般來說，積分(fēn)方法适用(yòng)于場景通常具(jù)有(yǒu)大緻均勻輻射的系統，例如在陰天條件下或太陽在相機或鏡頭系統後的景觀成像。
